試驗中可能出現的異常情況及對策

絕緣電阻偏低

將瓷套表面擦干凈;

采用屏蔽法進行測量。

介損異常

檢查試驗接線是否正確、接觸是否良好；

排除干擾影響;

將瓷套表面及二次端子板擦干凈;

調整試驗引線與試品的夾角，盡量接近90度采用不同試驗方法。

試驗數據的判斷

對試驗數據的判斷方法

1)與出廠試驗數據或安裝交接試驗數據比較應無明顯的變化。

2)與同類產品比較應無明顯的差異。

3)與歷年試驗數據比較應無顯著的差別。

4)試驗結果應符合相關規程的規。

數據異常的可能原因

1)絕緣電阻下降

a.受潮;

b.外套臟污;

c.絕緣老化變質；

d.局部絕緣破損或擊穿。

2)介質損耗因數增大

a.受潮或外套臟污；

b.外電場干擾；

試驗引線或接地線接觸不良造成的附加損耗；

電容屏半擊穿狀態形成的附加電阻；

內部絕緣存在局部放電缺陷；

絕緣老化、變質造成介質損耗增加；

介質損耗隨試驗電壓的下降而增加，說明電容屏絕緣材料有雜質。

3)電容量增加
a.個別電容元件擊穿或電容屏層間絕緣存在擊穿問題；

電容元件或電容屏受潮；

采用反接線測量時高壓引線太長(引線對地電容大)。

4)電容量減小

a.電容元件之間的連接線或電容屏引線斷線或接觸不良;

b.油浸式電容器或互感器內部缺油。

5)直流電阻異常

a.線圈存在匝間短路；

b.線圈存在焊接不好或接觸不良、斷線等問題。

6)勵磁特性異常

a.勵磁電流增加:繞組存在匝間短路，此時變比也會發生變化；

b.勵磁電流變小:繞組存在斷線或虛焊問題。