微機繼電保護(hù)測試儀df/dt閉鎖。

  df/dt測試范圍

  測試“df/dt閉鎖值”時，在此范圍內(nèi)逐點進(jìn)行試探測試，每次測試時都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗至保護(hù)動作，則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。
  因為保護(hù)在大于整定的df/dt值下滑時閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的df/dt閉鎖值。

  頻率變化范圍

  每輪試驗頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。

  注意：做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。